产品介绍：
用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度（偏压）高加速应力寿命老化试验。
产品别名：
BHAST,偏压高加速老化试验箱, 温湿度偏压寿命老化试验箱,高温高湿偏压湿热老化箱
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一，满足试验标准：
AEC Q101（车规级芯片）
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热
IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热
JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命
JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）
JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）
JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命
JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验
二，应用领域：
PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片
1.内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
2.采用高效真空泵，使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态。
3.采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口。
4.汽车级硅胶整体密封条，气密性好，耐用。
5.全自动补水功能,前置式水位确认。
6.采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为：干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。
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一，主要技术参数 |
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型号 |
WBE-HAST-35 |
WBE-HAST-40 |
WBE-HAST-55（可定制） |
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内容积（L） |
35L |
40L |
55L |
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工作室尺寸(ΦxD) 直径x深(mm） |
350x450mm |
400x550mm |
550x650mm（可定制大于这个尺寸） |
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外箱尺寸(WxDxH) 宽深高(mm) |
700x1000x1710mm |
700x1000x1710mm |
850x1150x1760mm |
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功率 |
2.8KW |
3.2KW |
4KW |
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重量 |
252KG |
285KG |
358KG |
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电源 |
AC220V 50/60Hz |
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温度范围 |
+100℃～+156℃; |
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温度波动度 |
≤±0.5℃. |
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温度均匀度 |
≤±0.5℃. |
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湿度范围 |
65%～100 %R.H . |
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湿度波动度 |
≤±2 %R.H. |
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湿度均匀度 |
≤±3 % R.H. |
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压力范围 |
0.2～3㎏/㎝² (0.018～0.294 MPa) （箱内压力）；（可定制大于此压力机型） |
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升温时间 |
常温～+ 155℃ 约45 min . |
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升压时间 |
常压～+ 3㎏/㎝² 约35 min. 外部气源加压：约5 min |
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偏压端子 |
含偏压端子（选配订购时需注明） |
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压力偏差 |
≤±2Kpa |
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循环方式 |
磁流体密封件+风叶强制对流循环方式。 |
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加压方式 |
1.锅炉蒸汽加压；2外部气体加压 |
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分辨率 |
温度±0.1℃,湿度±0.1%R.H. 压力0.01㎏/cm2，0.01min |
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温度、湿度、 压力范围 |
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保温围护结构 |
内胆：优质SUS316锈钢；外壳;轧钢板+双面静电喷塑工艺处理；内胆保温材料：超细玻璃棉。 |
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燥音 |
≤60（dB） |
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控制器 |
7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度曲线，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据） |
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使用条件 |
环境温度：+5℃~+35℃;环境湿度：≤85%RH；环境大气压要求：86KPa～106KPa |
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| 型号说明 |
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产品详情
产品特点
技术规格
威邦实力
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